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高機能化・複雑化が進むITシステムの品質確保
膨大なテストケース作成とその実行工数に悩まされていませんか？
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例えば、金融システムに代表されるミッションクリティカルな基幹システムでは、数百から数万といった膨大な量のテストケースが作成され、テストが実施されています。
一方で、市場における競争力維持のためにリリースの短期化、開発コストへの圧力はますます強くなっている状況です。
開発現場は、このような「高品質」「短納期」「低コスト」という相互に矛盾した問題に頭を抱えているのではないでしょうか？
その解決策の１つが、テスト設計における【無駄や漏れが最少化されたテストケースの作成】と【効率的なテスト実行プロセス】です。
今回は産業技術総合研究所が研究中の最新のテスト設計技法をご紹介するとともに、その技法を活用したコストに見合うテストケース生成と効率的なテスト実行を実現するテストソリューションをご紹介します。
是非、ご参加ください。
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◆セミナー概要
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【開催日程】2014年8月7日(木)13:30～17:00 (開場：13:10)
【会場】アキバプラザ ６階 セミナールーム１
東京都千代田区神田練塀町3 富士ソフト秋葉原ビル
http://www.fsi.co.jp/akibaplaza/cont/info/access.html
【参費用】無料
【定員】60名(定員になり次第締め切らせていただきます。)
※同一部署からのご参加は、2名様までとさせていただきます。
※ご同業の方の参加はご遠慮いただいております。
【講演内容】
■モデルベーストテスト技法 FOT
【講師】
独立行政法人産業技術総合研究所
セキュアシステム研究部門 大岩 寛様・北村 崇師様
【概要】
FOT は産総研が研究開発するモデルベーストのテスト分析技術、及び、テストケース自動生成技術である。モデルベースト手法により系統的なテスト分析を支援し、自動生成技術により漏れ・重複のないテストケースを低コストで作成する。
本講演では、FOTの技術概要、及び、その産業システムへの適用事例について紹介する。
■「テスト計画の早期立案」と「効率的なテスト実施法」
【講師】
テクマトリックス株式会社
【概要】
設計段階から始める無駄のないテストケースの作成及び、テスト自動化ツールを活用したテスト実施法のデモを含め、テスト設計からテスト実施までのテストプロセスを効率的に進める方法を紹介する。
■テクマトリックスの製品とサービスのご案内
※内容は、変更する場合がございます。あらかじめご了承ください。
【申込方法】お申し込み受付ページからお申し込みください。
